詳細摘要： 的JSM-7610F的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV0.8nm、1kV1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相
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北京培科創新技術有限公司
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詳細摘要： 的JSM-7610F的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV0.8nm、1kV1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相
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詳細摘要： JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡
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詳細摘要： JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案
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詳細摘要： JEOLInTouchScope系列的新機型,采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野...
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詳細摘要： JSM-7200F的電子光學系統應用了日本電子旗艦機-JSM-7800FPrime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配TTLS系統（Through-The-Len...
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詳細摘要： 簡介場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z200FSCCRYOARMTM200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統
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詳細摘要： 簡介場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC(CRYOARM300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系...
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詳細摘要： 簡介從生物技術到納米技術、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被廣泛應用在多個領域，而且用途越來越廣
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詳細摘要： JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100的電子光學系統，還增加了的控制系統，大幅提高了可操作性
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詳細摘要： 簡介NEOARM標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）
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詳細摘要： JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡
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詳細摘要： 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計...
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詳細摘要： JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養容易，體積小巧，價...
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